雷頓三坐標(biāo)機(jī)是在一個(gè)六面體的空間范圍內(nèi)，能夠表現(xiàn)幾何形狀、長(zhǎng)度及圓周分度等測(cè)量能力的儀器。它通常具有三個(gè)可移動(dòng)的軸（X、Y、Z），這些軸上的探測(cè)器可以以接觸或非接觸的方式傳遞信號(hào)，并通過(guò)位移測(cè)量系統(tǒng)（如光柵尺）和數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)計(jì)算出工件的各點(diǎn)（x,y,z）坐標(biāo)及各項(xiàng)功能測(cè)量值。
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的主要技術(shù)指標(biāo)包括測(cè)量精度、測(cè)量范圍、使用環(huán)境等。其中，測(cè)量精度是衡量三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能的重要指標(biāo)之一，通常能夠達(dá)到亞微米級(jí)別。測(cè)量范圍則根據(jù)機(jī)型和設(shè)計(jì)而定，可滿(mǎn)足不同尺寸工件的測(cè)量需求。
1、高精度與高分辨率
核心優(yōu)勢(shì):采用高精度的光柵尺、激光干涉儀或電容/電感傳感器作為位置反饋元件，配合精密的導(dǎo)軌和花崗巖/陶瓷/鋁合金等穩(wěn)定基座。
技術(shù)體現(xiàn):
測(cè)量精度:可達(dá)微米（μm）甚至亞微米級(jí)（如±(1.5+L/300)μm，L為測(cè)量長(zhǎng)度）。
分辨率:能分辨納米級(jí)的位移變化。
應(yīng)用價(jià)值:滿(mǎn)足航空航天、精密模具、醫(yī)療器械等高d制造領(lǐng)域?qū)α慵鹊膰?yán)苛要求。
2、三維空間全尺寸測(cè)量
功能特點(diǎn):能夠測(cè)量工件在三維空間內(nèi)的任意幾何特征，包括：
尺寸:長(zhǎng)度、寬度、高度、直徑、角度等。
形位公差:平面度、圓度、圓柱度、直線(xiàn)度、輪廓度等。
位置公差:位置度、同軸度、平行度、垂直度、傾斜度、跳動(dòng)等。
復(fù)雜曲面:可通過(guò)密集采點(diǎn)進(jìn)行曲面掃描，構(gòu)建三維模型。
優(yōu)勢(shì):一臺(tái)設(shè)備即可完成傳統(tǒng)多種量具（卡尺、千分尺、高度規(guī)、投影儀等）的測(cè)量任務(wù)，測(cè)量范圍廣。
3、高效與自動(dòng)化
測(cè)量效率:相比手動(dòng)測(cè)量，CMM可快速、連續(xù)地采集大量測(cè)量點(diǎn)，顯著提高檢測(cè)效率。
自動(dòng)化測(cè)量:
自動(dòng)編程:通過(guò)CAD模型（如IGES,STEP）導(dǎo)入，軟件可自動(dòng)生成測(cè)量路徑和程序。
自動(dòng)測(cè)量:運(yùn)行程序后，機(jī)器自動(dòng)移動(dòng)探針到指定位置進(jìn)行測(cè)量，無(wú)需人工干預(yù)。
自動(dòng)更換測(cè)頭:配備自動(dòng)測(cè)頭更換架（如MCR）和多類(lèi)型測(cè)頭（觸發(fā)式、掃描式、光學(xué)測(cè)頭），實(shí)現(xiàn)復(fù)雜工件的全自動(dòng)、多特征測(cè)量。
應(yīng)用:特別適合生產(chǎn)線(xiàn)上的批量零件快速檢測(cè)和統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（SPC）。
4、數(shù)字化與智能化
數(shù)據(jù)處理:測(cè)量數(shù)據(jù)直接進(jìn)入計(jì)算機(jī)，通過(guò)專(zhuān)業(yè)軟件（如PC-DMIS,QUINDOS,Calypso）進(jìn)行計(jì)算、分析、比對(duì)（與CAD模型或理論值）。
功能強(qiáng)大:
自動(dòng)生成測(cè)量報(bào)告（含圖表、公差帶、偏差值）。
進(jìn)行尺寸鏈分析、裝配模擬、逆向工程等。
支持SPC統(tǒng)計(jì)分析，監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程穩(wěn)定性。
優(yōu)勢(shì):實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程的數(shù)字化、可視化和可追溯性。
5、多樣化的測(cè)頭系統(tǒng)
技術(shù)核心:測(cè)頭是直接與工件接觸或非接觸感知的“感覺(jué)器官”。
主要類(lèi)型:
觸發(fā)式測(cè)頭:接觸工件時(shí)發(fā)出信號(hào)，記錄坐標(biāo)。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低，精度高，適用于離散點(diǎn)測(cè)量。
掃描式測(cè)頭(模擬測(cè)頭):在工件表面連續(xù)滑動(dòng)，實(shí)時(shí)輸出三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)流。適用于復(fù)雜曲面、輪廓的高密度掃描，效率和精度更高。
光學(xué)測(cè)頭:如激光線(xiàn)掃描、白光干涉、影像測(cè)量頭，實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)量，適用于軟質(zhì)、易變形或高反光表面。
靈活性:可根據(jù)工件材質(zhì)、形狀和測(cè)量需求選擇合適的測(cè)頭。
6、環(huán)境適應(yīng)性與穩(wěn)定性
環(huán)境要求:對(duì)溫度（通常要求20±1°C或±2°C）、濕度、振動(dòng)和清潔度有較高要求，以保證測(cè)量精度。
材料選擇:基座、橫梁等運(yùn)動(dòng)部件常采用熱膨脹系數(shù)低的材料（如花崗巖、陶瓷、特殊鋁合金），減少溫度變化的影響。
溫度補(bǔ)償:高d機(jī)型配備溫度傳感器和補(bǔ)償軟件，自動(dòng)修正熱變形誤差。
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